低溫試驗(yàn)箱可以用來考核和確定電池、電工、電子產(chǎn)品、儀器儀表或材料的溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用平衡調(diào)溫方式（BTHC）,以PID方式控制SSR來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。

為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電池、電工、電子、儀器儀表及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能，低溫范圍從0度到-70度均可，試驗(yàn)參照標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T2423.1、GJB 150.4-86、GB/T10589低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。